Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
The optical dielectric functions for hafnium oxide and hafnium silicate films were extracted from spectroscopic ellipsometry measurements and the density then calculated using a previously proposed method. The values obtained were then compared to those obtained using X-ray reflectometry. The optical dielectric functions for gadolinium oxide films deposited under various conditions were also extracted...
The optical dielectric function of hafnium oxide and hafnium silicate thin films was extracted from spectroscopic ellipsometry measurements. The dielectric function is further used for extracting the film density and also to investigate the relation with composition, deposition method and layer stoichiometry. The density of a hafnium silicate film was found to vary between 5563 and 8223 kg/m −3...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.