Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
In this paper, we present a detailed analysis of a draining tank filled with a certain fluid by means of numerical simulations. All calculations were performed using interactive software developed by the authors in Python programming language. This computer code was made in the context of the final project of Physics I course for Computer Engineering career of the National University Arturo Jauretche...
A system to monitor pulsed laser beams on semiconductor EPROM, EEPROM and RAM devices is presented. The laser beams can generate single event effects (SEE), which are detected by reading the memory cells during or after laser irradiation. Initial user-defined or preconfigured bit patterns are saved on memory cells before laser pulse strikes. A Visual Basic application running on a computer communicates...
In this paper, we present a study about Si and GaAs space solar cells by means of numerical simulations. We have investigated the variations of the short-circuit current, open circuit voltage and maximum power point, before and after the devices were irradiated with 10 MeV protons and fluences between 109 and 1013 p+/cm2. The simulation results allow to obtain the optimum solar cell with specific...
A system to determine the minority carrier lifetime in PN semiconductor junctions in the range of 50 ns to 100 μs has been developed. The measurement is performed by using the Open Circuit Voltage Decay (OCVD) technique. The equipment consists mainly of a data acquisition system based on a PIC16F877A microcontroller, connected to a computer, and software for the control of the entire system, data...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.