Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
System test has been the standard measurement to evaluate performance variability of high-performance microprocessors. The question of whether or not many of the lower-cost alternative tests can be used to reduce system test has been studied for many years. This paper utilizes a data-learning approach for correlating three test datasets, structural test, ring oscillator test, and scan flush test,...
The question of whether or not structural test measurements can be used to predict functional or system Fmax, has been studied for many years. This paper presents a data learning approach to study the question. Given Fmax values and structural delay measurements on a set of sample chips, we propose a method called conformity check whose goal is to select a subset of conformal samples such that a more...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.