Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
This paper presents a novel life prediction approach for degraded components under complicated stress. The approach mainly consists of two parts: a data discretization method for computing degradation rates and a clustering analysis rule to divide the complicated stress into several categories. An empirical model is built to describe the relationship between the center of stress and the degradation...
The 2-D electrical-field-dependent hot-hole-related negative-bias temperature instability (HH-NBTI) behaviors of pMOSFETs with 1.7-nm decoupled-plasma-nitridation oxynitride dielectrics are investigated. The lateral-channel electric-field-induced turnaround HH-NBTI degradation that is associated with the enhanced breaking effect of the interfacial Si-H bonds at the Si interface is demonstrated. For...
Based on the retention failure mechanism of high resistance state due to reconstruction of oxygen vacancy filament in the rupture region, a physical model is proposed to quantify the retention failure behavior of oxide-based RRAM devices, supported by experiments. A new data retention evaluation methodology is proposed to predict the failure probability and lifetime of the memory devices.
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.