Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
MoS2 Devices
In article number 2106411, Wen‐Wei Wu and co‐workers reveal the direct observation of an MoS2 device under biasing via powerful in situ transmission electron microscopy (TEM). During in situ TEM biasing, the MoS2 is etched vertically and horizontally; the former is dominated by knock‐on damage, while the latter involves atomic migration induced by Joule heating. Also, the long cracks...
2D materials have great potential for not only device scaling but also various applications. To prompt the development of 2D electronics and optoelectronics, a better understanding of the limitation of materials is essential. Material failure caused by bias can lead to variations in device behavior and even electrical breakdown. In this study, the structural evolution of monolayer MoS2 with high bias...