Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Edge illumination (EI) X-ray phase-contrast imaging (XPCI) has been under development at University College London in recent years, and has shown great potential for both laboratory and synchrotron applications. In this work, we propose a new acquisition and processing scheme. Contrary to existing retrieval methods for EI, which require as input two images acquired in different setup configurations,...
A method is proposed which enables the retrieval of the thickness or of the projected electron density of a sample from a single input image acquired with an edge illumination phase‐contrast imaging setup. The method assumes the case of a quasi‐homogeneous sample, i.e. a sample with a constant ratio between the real and imaginary parts of its complex refractive index. Compared with current methods...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.