Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Test catches defective parts. Traditional DFT makes test-related activities more cost effective. Debug and diagnosis discovers why a design or part did not work. Yield relates to how many good parts can be shipped thus how many dollars can be received. As one would expect, all these areas are related. The issue becomes: Can information from one operation be geared to better another? This panel specifically...
This paper presents a review of power topics for DFT and ATPG. The issue of increasing power in ASIC design is an important topic.in terms of power management and CMOS power consumption has been considered as low-power. The related issues of power and test have been discussed, but often in the fairly narrow context of limiting power during scan test. This topic is becoming increasingly important as...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.