Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
In this paper, a built-in electrical test circuit is proposed to detect an open defect at an interconnect between a land on a printed circuit board and an IC. The test circuit is made of an integrating circuit, nMOS switches and a switch control circuit. A time-varying signal generated by the integrating circuit is provided to a targeted interconnect as a stimulus signal in the tests. An input buffer...
In this paper, we propose block-level replacement techniques for content-addressable memories. The CAM array is first divided into row banks and column banks. Then, for each divided array (the overlapped CAM cells of a row bank and a column bank), two redundant row blocks are added and reconfiguration is performed at the block level instead of the conventional word level. According to simulation results,...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.