Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
The measurement of device thermal resistance is a common approach to junction temperature determination given a set of environmental conditions and the device power dissipation. This paper introduces a novel instrument that can measure the thermal resistance of high brightness LED quickly using electrical test method (ETM). According to the international JEDEC standard, the instrument uses the LED...
Molecular-orbital calculations on the ground states and optical excitation states corresponding to low energy valence UV spectra of MX 4 (M = Ti, Zr, Hf; X = Cl, Br) are carried out using both self-consistent one-electron nonrelativistic Hartree-Fock-Slater and fully relativistic Dirac-Fock-Slater discrete variational Local-density functional methods within the self-consistent multipolar (SCM)...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.