Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Cryogenic ion implantation process has received increasing attention because it provides better amorphization performance and less end-of-range defects. In this study, 20nm-thick CoSi2 film was formed on cryogenic carbon ion-implanted poly-Si substrate and the agglomeration behavior of CoSi2 film after high temperature RTA annealing was investigated by four-point-probe resistivity measurement. Results...
With scaling down of device geometry and keeping improvement of the chip resistance capacitance (RC) delay, it is necessary to reduce k value. A porous ultra low k-value (ULK) dielectric film is integrated into Cu interconnects of advanced 40 nm. There are several papers discussing about the interface effect between ULK film and barrier on reliability performance. This paper will discuss the effect...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.