Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
The effect of high energy proton irradiation and angle of incidence on single-event latchup (SEL) hardness is investigated as a function of temperature and power supply voltage to determine worst-case hardness assurance test conditions for space environments. SRAMs from several vendors were characterized for single-event latchup SEL hardness at proton energies from 20 to 500 MeV at temperatures of...
The effect of high energy proton irradiation and angle of incidence on single-event latchup (SEL) hardness is investigated as a function of temperature and power supply voltage to determine worst-case hardness assurance test conditions for space environments. SRAMs from several vendors were characterized for single-event latchup SEL hardness at proton energies from 20 to 500 MeV at temperatures of...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.