Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
We have proposed and developed a test structure for evaluating electrical characteristics variability of a large number of MOSFETs in very short time using very simple circuit structure. The electrical characteristics such as threshold voltage, subthreshold swings S-factors, random telegraph signal noise, and so on, can be measured in over one million MOSFETs. This new test structure circuit and results...
To suppress Random Telegraph Signal (RTS) noise in MOSFETs, it is necessary to understand the phenomena of RTS. We can extract the accurate time constant in RTS noise by measuring a huge number of MOSFETs during a long time. Time constant is useful to obtain the energy level. In this paper, we demonstrated the statistical and accurate measurement method of the time constant of RTS by a sufficient...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.