Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
As information bits of 0's and 1's are stored in crosspoint tantalum oxide memristors, or resistive random access memory (RRAM) cells, nanoscale‐resolution in operando X‐ray transmission spectromicroscopy is used by J. P. Strachan and co‐workers, as reported on page 2772, to directly observe oxygen migration and clustering, revealing an important operation and failure mechanism of RRAM, a frontrunner...
Oxygen migration in tantalum oxide, a promising next‐generation storage material, is studied using in operando X‐ray absorption spectromicroscopy. This approach allows a physical description of the evolution of conduction channel and eventual device failure. The observed ring‐like patterns of oxygen concentration are modeled using thermophoretic forces and Fick diffusion, establishing the critical...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.