Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
The measurement of timing and voltage signals inside integrated circuits (IC) is critical to debugging new devices, to failure analysis of advanced devices, validating new IP (intellectual property) in new silicon, etc. E-beam probing (EBP) has been very useful for front side devices for over two decades. For measuring signals below the top metal layers, probe pads are made using a focused ion beam...
Among the backside analysis techniques of integrated circuits, laser voltage probing provides signal levels of the nodes. In the past, signal interpretation has been empirically based. In this paper, for the first time, an in-depth investigation of signal origin and parametric measurements of active devices have been performed, and a concise physical model of laser beam absorption has been developed...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.