Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
This review focuses on the growth and optical properties of amorphous zinc oxide (ZnO) thin films. A high quality ZnO films fabricated by dip-coating (sol–gel) method were grown on quartz and glass substrates at temperature equal to 350K. The amorphous nature of the films was verified by X-ray diffraction. Atomic Force Microscopy was used to evaluate the surface morphology of the films. The optical...
This work contains investigation results of the structural and nonlinear optical properties of self-assembled organometallic thin films. The films were successfully grown by Physical Vapor Deposition technique in high vacuum on transparent (quartz, glass) and semiconductor (n-type silicon) substrates kept at room temperature during the deposition process. Selected films were undergone an annealing...
Thin films of hafnium oxide (HfO2) have been grown by PLD method on transparent quartz substrates. The HfO2 target used in our experiment was made by pressing HfO2 powder. A XeCl excimer laser (EXC 150, ESTLA, 308 nm in wavelength, 20 ns in pulse width) running at 10 Hz with an average pulse energy of about 200 mJ was used. The films were characterized using X-ray diffraction. The films were amorphous,...
The optical properties of ZnO thin films grown by sol-gel method on quartz wafers were studied using photoluminescence measurements for optical properties. The structural properties of the ZnO thin films were carried out using X-ray method. The effects of the thickness variation and annealing temperature on the crystallinity parameters were observed. A strong dependence of the films structure, the...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.