Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
To improve the productivity of very large scale of TSIs or large LCD panels, the nano-technologies to inspect the TSIs are required. To remove the less than one-micrometer contaminants on the TSIs, it is required to extract their positions and 3-D shapes, precisely. To meet with these requirements, a nano-level 3-D shape extraction method has been introduced and the measurement results are described...
To improve the productivity of very large scale of LSls and large LCD panels, the technologies to inspect the LSls are required. To remove the less than one-micrometer contaminants on the LSls, it is required to extract their 3-D shape and position, precisely. To meet with these requirements, a nano-level 3-D shape extraction method has been developed. Here, the basic idea of the method and the experimental...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.