Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Mit DFT‐Rechnungen wurden die Aktivierungsenergien Ea für die Diffusion von Defekten in Si (blau im Bild) ermittelt (von links nach rechts: Diffusion von Oi0 (rot)). Die mit vier Austauschkorrelationsfunktionalen Exc berechneten Ea‐Werte wurden mit experimentellen Daten verglichen. Die Ea‐Werte der „atomähnlichen“ Defekte auf Zwischengitterplätzen sind meist unabhängig von Exc , im Unterschied zu...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.