Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Atomic resolution scanning transmission electron microscopy (STEM) analysis, in particular the combination of Z-contrast imaging and electron energy-loss spectroscopy (EELS) has been successfully used to measure the atomic and electronic structure of materials with sub-nanometer spatial resolution. Furthermore, the combination of this incoherent imaging technique with EELS allows us to correlate certain...
Structural distortions arising from the condensations of two essential kinds of phonon modes: the triply degenerate rotational modes (φ x ,φ y, φ z ) of MnO 6 and the doubly degenerate Jahn-Teller active modes (Q 1 ,Q 2 ) have been systematically investigated in the perovskite manganites. Microstructural features associated with certain types of...
We propose a novel symmetrization method for solving the transport of intensity equation (TIE) using fast Fourier transforms for situations where the input images may or may not exhibit spatial periodicity. The method is derived from the analysis of intensity conservation law and the internal symmetry of the TIE, and is illustrated for both a computational and an experimental data set.
Electron diffraction and imaging are very sensitive to the valence-electron distribution in materials at small scattering angles. We take advantage of the large dimension of the unit-cell along the c-axis of YBa2Cu3O7 and Bi2Sr2CaCu2O8+δ superconductors, to study the distribution of charge carriers, crucial to understanding the superconducting behaviors in these complex systems. Electron pile-up associated...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.