Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
The quality control of LCD manufacturing process is very important to minimize cost and maximize product quality. This paper proposes a practical algorithm that detects surface defects and identifies their types in thin film transistor liquid crystal display (TFT-LCD). The main contribution is to improve a local adaptive threshold method and apply it for extracting the defect candidates with a small...
In this paper, we developed a robust machine vision system for backlit mouse defect inspection. The defects might include incorrect illuminating area, incorrect LED color saturation, fragment or crack lighting pattern on the backlit mouse. A set of machine vision algorithms were designed to segment the inspection regions (IRs) and extract three features of the segmented IRs. These features were area...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.