Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
In this paper, a novel nonlinear thermal resistance extraction method for Gallium Nitride (GaN) high electron-mobility transistors (HEMTs) is presented. Pulsed I–V measurements were performed at different ambient temperatures to extract the relationship between transistor's channel currents and channel temperature under various power dissipations. The temperature-dependent access resistances which...
Accurate modeling of electrothermal effects of GaN electronic devices is critical for reliability design and assessment. In this paper, an electrothermal model for large signal equivalent circuit modeling of AlGaN/GaN HEMTs including self-heating and ambient temperature effects is presented. To accurately describe the effect of ambient temperature, two separate electrothermal networks (...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.