Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Scan based transition delay fault (TDF) tests are generally applied in the launch-on-capture (LOC) mode because the scan enable control signal broadcast to all flip-flops on the die is expensive to implement as a fast switching signal needed to support at-speed launch-on-shift (LOS) tests. However, there is mounting evidence that even when applied at much slower speeds, LOS tests often detect a significant...
Recent studies indicate that a significant number of very large delay faults that increase circuit path delays several fold, remain difficult to detect and are only discovered by very carefully crafted and comprehensive two-pattern tests, e.g. cell aware tests. A likely source of such large delays in CMOS is stuck-open faults. These can sometimes still allow the circuit to reach the correct logic...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.