Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
We have studied the structure of a high-porous silica thin film with pore sizes in nanometer scale using X-ray reflectivity and small angle X-ray scattering in grazing incidence geometry. The reflectivity data provide the information of surface and interface characteristics, density–depth profile, and porosity of the xerogel film. Whereas the grazing incidence small angle X-ray scattering results...
In this work, we have investigated the thermal stability of the organic component of porous SiO 2 (xerogel) films using a combination of ion beam techniques and thermal desorption spectroscopy (TDS). Ion beam techniques reveal a large concentration of carbon and hydrogen atoms in this film. The presence of these elements arises from the surface modification step in xerogel film processing,...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.