Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
The present paper proposes an application of the split C-V method to trench gated IGBTs. A model of the gate to emitter capacitance along with an illustration of the monitoring of injected charges in the trench oxide of a trench gated IGBT during an accelerated ageing campaign are presented.
The thermal step method is a non destructive electric charge measurement technique, based on the acquisition of a capacitive current appearing when an insulating structure is crossed by a low amplitude thermal wave. Elements concerning the electrostatic behavior of a metal-oxide-semiconductor structure while crossed by a thermal wave are addressed in the present paper in view of the analysis of data...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.