Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Nitrogen and oxygen enriched FZ silicon p‐in‐n pad radiation detectors are investigated with respect to the radiation hardness. The leakage current and the charge carrier lifetime are measured before and after 1 MeV electron irradiation. Before irradiation the leakage current was found to increase due to enrichment by nitrogen and oxygen. After the irradiation the leakage current as well as the radiation...
High‐resolution photoinduced transient spectroscopy (HRPITS) has been applied to study electronic properties of point defects in semi‐insulating (SI) GaP obtained by high temperature annealing under phosphorus (P) vapour pressure. The parameters of defect centres are extracted from the photocurrent relaxation waveforms, recorded in a wide temperature range of 30–600 K, by means of a two‐dimensional...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.