Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Designs using advanced low power techniques like multi-supply multi-voltage and power shutoff bring with them a new set of challenges that manufacturing test must deal with carefully. These designs have low power components-isolation cells, retention flops, level shifters, power switches, etc.,-that must be tested not only structurally but also addressing their behavior across multiple power modes...
Scan-based manufacturing test of low power designs often exceeds the very tight functional constraints on average and instantaneous logic switching. The logic activity during the shift and launch-capture of test pattern data may lead to excessive power consumption and voltage droop. This paper focuses on the management of instantaneous power during the capture phase. By taking advantage of the existing...
This paper shows a way to define a partially-exhaustive gate transition fault model for use in catching defects that escape when using more traditional fault models. We define the gate-level transitions ATPG must create for this fault model and how this may catch un-modeled defects. Future work will analyze results of applying tests generated using this fault model against a commercial chip design.
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.