Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Two different types of instrumentation have been utilized to characterize thin film samples. New techniques have been developed so that the dielectric permittivity values can be determined accurately at microwave as well as at millimeter wave and terahertz frequencies. A specially designed slotted cavity for X-band microwave measurement has been employed with a vector network analyzer to overcome...
Newly improved dispersive Fourier transform spectroscopy is applied to measure dielectric permittivity of the thin films at terahertz frequency range. Dielectric properties of thin film materials are hard to acquire as the thickness is too small to provide enough phase shift. The step size of the active mirror in the dispersive Fourier transform spectroscopy is enhanced to 500 nanometers which enable...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.