Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
We present an experimental analysis of alpha-induced soft errors in 90-nm low-end SRAM-based FPGAs. We first assess the relative sensitivity of the configuration memory bits controlling the different resources in the FPGA. We then study how SEU accumulation in the configuration memory impacts on the reliability of unhardened and hardened-by-design circuits. We analyze different hardening solutions...
We present an experimental analysis of alpha-induced soft errors in 90-nm low-end SRAM-based FPGAs. We first assess the relative sensitivity of the configuration memory bits controlling the different resources in the FPGA. We then study how SEU accumulation in the configuration memory impacts on the reliability of unhardened and hardened-by-design circuits. We analyze different hardening solutions...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.