Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
The bottom-up self-assembly fabrication process of nanoelectronic results in higher defect density. Furthermore, transient and permanent faults could also occur during operation due to the sensitivity. Thus, defect and fault tolerance techniques are urgently needed. In this paper, we propose a concept of diversity mapping and three corresponding algorithms for defect-tolerance logic mapping in nanoelectronic...
Emerging nanoelectronic technologies are expected to extend the conventional integrated circuits beyond CMOS. However, the bottom-up self-assembly fabrication process of nanoelectronic devices results in higher defect density. Thus, crafted defect-tolerance techniques are urgently needed. In this paper, we present a low time complexity algorithm for application-independent defect-tolerance of nanoelectronic...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.