Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
A substrate network tailored for a variety of transistor geometry including channel sizes, fingering and folding, and shapes and placements of guard bands, extends the capability and accuracy of full-chip noise coupling analysis of mixed technology VLSI integration. Analysis of substrate sensitivity of differential amplifiers in a 90 nm CMOS technology with more than 64 different geometry and operating...
A fully integrated framework of full-chip power and substrate noise analysis is discussed, featuring description of transistor-level custom circuits as dynamic noise sources, a high capacity solver for chip-level substrate coupling, and noise back annotation flow to transistors of sensitive circuits. Recursive evaluation of power current and operation timing under the presence of dynamic IR drop greatly...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.