Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Cu-Cu is a prefer choice of interconnects as it offered lower electrical resistance, no risk of shorting between the bump and higher reliability as compared to Cu-Solder Bump. However, Cu-Cu interconnect requests stringent condition such as Cu bump surface topography, flatness, uniformity of pillar array heights and clean bonding surface. From throughput point of view, Cu-Cu bonding is challenging...
Ultra-fine pitch (6μm) interconnects are essential for high-end application-products that demands high speed and high bandwidth inter-chip communication. Achieving Cu-Cu bonding with such a fine pitch is challenging since bond time is too long and bond interface gets easily oxidized. Throughput issue associated with long-bonding time is solved by using 2-step bonding procedure where first step is...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.