Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Timing-related defects are a major cause of test escapes and field returns for very deep-submicron (VDSM) integrated circuits. Small-delay variations induced by crosstalk, process variations, power supply noise, and resistive opens and shorts can cause timing failures in a design, leading to quality and reliability concerns. This article describes the authors' work with a previously proposed test-grading...
For sub-nanometer designs, testing for small-delay defects (SDDs) is essential to achieve low defect escapes for the manufactured silicon. Existing solutions for testing SDDs are not practical for high-volume production environments due to large pattern count or long compute time, or both. In this paper, we present a production-friendly method that takes the circuit topology into account while generating...
Testing for small-delay defects (SDDs) is necessary for ensuring product quality in smaller technology nodes. Current tools such as transition-delay fault (TDF) ATPGs and timing-aware ATPGs are either inefficient in detecting SDDs or suffering from large pattern count and CPU runtime. Furthermore, none of these methodologies take into account the impact of pattern-induced noises, e.g., power supply...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.