Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Warpage of micro-electronics caused by the curing process and thermal cycling is of major importance in electronic packaging. Industry is availed by good methods to be able to predict warpage accurately. The main difficulty for prediction of warpage is caused by the complicated material behavior of molding compound. It turns out that the mechanical behavior of molding compound is dependent on time,...
Warpage is a critical issue for an electronic package molding process. Much work is done in the past to predict the warpage of a package after the cooling down from the molding process. However, there are many material models for the molding compound to predict warpage: Elastic and viscoelastic models are used, and there are even groups which use cure-dependent viscoelastic models. In this paper,...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.