Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
The thermal stability of STT-RAM is measured by multiple techniques and compared with theory. The read disturb rate is found to be determined by the standby thermal stability, but the error rate at target read currents is higher than expected. The implication for the design of 1 Gb STT-RAM is that 10 year room temperature data retention as well as 1000 FIT read disturb error rate requires thermal...
In this paper, we present a detailed analysis of our latest statistical MTJ switching data and STT-RAM chip results. We analyze STT-RAM thermal stability and, for the first time, compare the thermal stability parameter obtained from pulse-width dependence measurements with that obtained from read disturb measurements. We also analyze the scalability of STT-RAM, and compare the properties of STT-RAM...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.