Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
We report the structural characterization of Gd5Ge2(Si1 − xSnx)2 (x = 0.23 and x = 0.40) compounds by means of 100 and 298 K-X-ray diffractometry (XRD) and 4 K-155Gd and 298 K-119Sn Mössbauer spectroscopy. These compounds order ferromagnetically at 218.4 and 172.7 K, respectively. At ∼100 K, it was identified the Gd5Si4-orthorhombic phase (type I) for both samples. At ∼298 K, it was identified a Gd...
We report the structural characterization of Gd5Ge2(Si1 − xSnx)2 (x = 0.23 and x = 0.40) compounds by means of 100 and 298 K-X-ray diffractometry (XRD) and 4 K-155Gd and 298 K-119Sn Mössbauer spectroscopy. These compounds order ferromagnetically at 218.4 and 172.7 K, respectively. At ∼100 K, it was identified the Gd5Si4-orthorhombic phase (type I) for both samples. At ∼298 K, it was identified a Gd...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.