Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
The phase mode atomic force microscopy (AFM) lithography and monolayer lift‐off process are combined to fabricate electronics based on 2D materials (2DMs), which remove the need for pre‐fabricating markers and increase the accuracy of the overlay and alignment. The promising phase mode of AFM lithography eliminates the drawbacks of the conventional force mode such as the over‐cut, under‐cut, debris...
In article number 1803273, Lianqing Liu and co‐workers propose a unique mask‐free and marker‐free lithography technique to fabricate a sub‐micrometer‐sized 2D material thin‐film transistor using the phase mode of atomic force microscopy. This method does not change the chemical, physical, and electrical properties of 2D materials. It offers a flexible, easy, effective, and low‐cost way to fabricate...
A friction modeling in zigzag and armchair lattice orientation of MoS2 has been demonstrated in this paper. Combing the assumption on the moving trajectories of the probe in both lattice orientations with two-dimension Tomlinson model, simulation of relationship between friction and orientation was smoothly performed with Matlab software. The lateral friction Microscopy(LFM) based experiment was conducted...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.