Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Advancement of large-scale integrated interconnect structure requires an ultra-thin and uniform diffusion barrier layer between Cu interconnect and insulating layers. As a promising alternative barrier to the conventional Ta/TaN, the self-forming barrier layer from the CuMnTi alloy layer was investigated in this work. In order to achieve the self-forming barrier layer, the CuMnTi alloy layer first...
Nanometer TiO 2 thin films doped with different concentration of Tb were prepared by sol–gel method and characterized by X-ray diffraction (XRD), thermogravimetry–differential thermal analysis (TG-DTA), transmission electron microscopy (TEM) and photoluminescence (PL) spectroscopy. XRD results show preferentially oriented (101) anatase films. TEM image indicates that the TiO 2 films...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.