Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
A one-year electromigration experiment was performed on an 8.9 /spl mu/m wide serpentine metal structure, at stress current densities from 0.3 to 1.3 MA/cm/sup 2/. Resistance decreases were observed and explained, and used to estimate a drift velocity which is linearly proportional to the difference between the stress current and the current threshold. The activation energy was found to be approximately...
An open-circuit failure mechanism for metal-to-metal via contacts in an Al-Cu/Ti metallization system during high-temperature stressing was studied. The test chips used were fully functional state-of-the-art nonvolatile memory devices fabricated on a submicron double-poly/double-metal technology. The upper metal layer (metal 2) was a 0.9 mu m-thick film of Al-0.5% Cu on a 0.1 mu m-thick Ti barrier...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.