Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Small delay defect (SDD) and aging-induced circuit failure are both prominent reliability concerns for nanoscale integrated circuits. Faster-than-at-speed testing is effective on SDD detection in manufacturing testing, which is always implemented by designing a suite of test signal generation circuits on the chip. Meanwhile, the integration of online aging sensors is becoming attractive in monitoring...
Negative bias temperature instability (NBTI) has been a significant reliability concern in current digital circuit design due to its effect of increasing the path delay with time and in turn degrading the circuit performance. NBTI degradation has strong dependence on input pattern and duty cycles. Based on this observation, we propose to apply multiple input vectors to the combination circuit in a...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.