Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Microprobing systems based on silicon force sensors allow accurate force and displacement measurements in the range of several μN or μm. Due to the high sensitive diffused piezoresistors and an appropriate electrical circuitry, these probing systems enable tactile measurement without leaving scratches on the probed surfaces. To probe microstructures on workpieces, probes with probe balls as small...
Three-dimensional micro probing systems based on silicon force sensors allow force measurements in the range of several μN. Their high sensitivity enables tactile measurements of three-dimensional micro- and nanostructures without leaving strong traces on the probed surfaces. However, their small sizes of 6.5 mm × 6.5 mm do not allow an easy handling and can lead to a breakage of the complete system...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.