Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
We propose a compact test generation method for transition faults based on a conflict avoidance driven scheme. A new measure is proposed to estimate the influence inputs, which is the subset of inputs to be specified, needed for detecting transition faults. The value requirements at the pseudoprimary inputs (PPIs) of the second frame of the automatic test pattern generation circuit model are partitioned...
A new test application scheme is proposed for low-power scan testing, which is able to compress test data significantly. A combination of a scan architecture and an existent test compression scheme can compress test data even better. Test power can be reduced greatly based on the new test application scheme, according to which only a subset of scan flip-flops shifts a test vector or captures test...
Testing for small-delay defects requires fault-effect propagation along the longest testable paths. However, the selection of the longest testable paths requires high CPU time and leads to large pattern counts. Dynamic test compaction for small-delay defects has remained largely unexplored thus far. We propose a path-selection scheme to accelerate ATPG based on stored testable critical-path information...
We propose a compact test generation method for transition faults, which is driven by a conflict-avoidance scheme employed during test generation. Based on an influence-cone function for transition faults in broadside scan testing, two dynamic test compaction schemes, named selfish test compaction and unselfish test compaction respectively, are proposed. The selfish test compaction tries to compact...
The small delay defects testing has two challenges. One is that the longest testable path selection for every target fault in ATPG consumes much CPU time. The other is the test data volume are very large. In this paper, we propose two strategies to resolve these two problems. A new path selection in advance scheme is proposed to accelerate ATPG. It aims to find fewer paths and cover more faults in...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.