Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Understanding the properties that determine the distribution and behavior of trace impurities in Si wafers is critical to defining and controlling the performance, reliability, and yields of integrated microelectronic devices. It remains, however, an intrinsically difficult task to determine trace impurities in Si because of the minute concentrations and extremely high levels of matrix involved. In...
A method has been developed based on an on-line isotope dilution technique couple with laser ablation/inductively coupled plasma mass spectrometry (LA–ICP-MS), for the determination of boron in p-type silicon wafers. The laser-ablated sample aerosol was mixed on-line with an enriched boron aerosol supplied continuously using a conventional nebulization system. Upon mixing the two aerosol streams,...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.