Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Statistic properties of rainfall in Tokyo are presented in this paper. Average rain duration as a function of rain rate is analyzed for future route switching technique to increase network availability. In case of strong rain (>100 mm/h), minimum and maximum duration were 20 sec. and 335 sec., respectively. It was found that even in the campus within 1 km, rain rate is different at each site and...
This paper introduces an example of a small antenna measurement system with the optical fiber link technologies in the millimeter-wave band. The effect of the facilities such as the connect jig and the measurement system should be carefully estimated in the antenna measurement. The radiation patterns of a 60 GHz small package antenna have been measured by the optical fiber link system.
Rain-rate time series generation algorithm at two different locations is developed for millimeter-wave wireless link simulator. Dependent rain-rate time series was generated by introducing different location rain rate conditional probability distribution. The proposed algorithm is investigated using measured data in Tokyo Tech millimeter-wave model network. Similarity of shape and time shifting characteristic...
A de-embedding method using an electromagnetic (EM) simulator is proposed to extract field-effect transistor (FET) characteristics from FET test-pattern measurements. In the proposed method, the S-parameters of the parasitic circuit are analyzed using the EM simulator. Hybrid S/Z-parameters, converted from S-parameters, are used for the parasitic circuit to express waveguide ports with S-parameters...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.