Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
The performance degradation resulting from the addition of ESD protection devices to very high speed Analog/RF designs is the main reason for low ESD robustness in these applications. This paper introduces an ESD methodology that combines device development and characterization as well as simulation, for high speed Analog/RF products. In this work a special ground referenced ESD network is introduced...
A flow and a CAD tool for the simulation of the ESD CDM classification test event in SPICE is described. The methodology consists of deconstructing the CDM test into its relevant components. The modeling and calibration of each component is shown to be essential in the development of a generic simulation approach predicting CDM pass and fail levels. The successful implementation of the flow is demonstrated...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.