Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Wafer Level Packaging (WLP) has the highest potential for future single chip packages because the WLP is intrinsically a chip size package. The package is completed directly on the wafer then singulated by dicing for the assembly. All packaging and testing operations of the dice are replaced by whole wafer fabrication and wafer level testing. Therefore, it becomes more cost-effective with decreasing...
The seven papers in this special section focus on delamination and cracking in electronic devices during assembly, packaging and reliability testing conditions. The papers are selected from the presentations of conferences organized under the auspices of the IEEE Components, Packaging, and Manufacturing Technology (CPMT) Society.
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.