Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
This paper presents a modeling methodology for substrate current coupling mechanisms. An equivalent schematic is made using enhanced model of resistances and diodes. These enhanced components were developed in previous work and account for minority and majority carrier propagation inside the semiconductor substrates. For the first time an equivalent schematic accounting for minority carrier is validated...
In this paper, a modeling methodology able to create an equivalent schematic of an High-Voltage integrated circuit is developed. The equivalent schematic is based on enhanced model of diodes and resistances, accounting for minority and majority carrier propagation at their boundary. In this work, the methodology to interconnect these elements in order to be able to model multi-dimensional current...
In this paper, a modeling methodology is validated based on an enhanced model of the diode, that we have developed to simulate substrate current coupling mechanisms on a typical H -bridge structure. An equivalent schematic based on an enhanced model of the diode was previously proposed to account for minority and majority carrier propagation in the substrate and implemented in Verilog-A code. In this...
This paper presents a modeling methodology for substrate current coupling mechanisms. An enhanced model of the diode ensuring continuity of minority carriers is used to build an equivalent schematic, accounting for minority and majority carrier propagation in the substrate. For the first time a typical H-bridge structure is simulated with the proposed methodology. The parasitic current injected in...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.