Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
We developed a carbon nanotube field emission x-ray system for computed tomography imaging. The obtained x-ray images were reconstructed to tomography image using back projection and filtered back projection algorithm. The resulting reconstructed x-ray image clearly shows micrometer scale.
We introduced the metal bonded silicon substrate as Al cathode for reduced contact resistance. The Si-Al was bonded in vacuum system with temperature of 570 °C and 15 min annealing time. After eutectic bonding, the resistance is reduced to a couple of ohms. The resistance was reduce to one hundreds of initial value. The electron emission current increased after Si-Al bonding. And the stability of...
We studied the effect of resin treatment of carbon nanotubes (CNTs) on field emission from carbon nanotube electron emitter arrays grown using the resist-assisted patterning (RAP) process. The electron emission current and stability of emission current of graphite coated CNTs were remarkably improved. We measured about 10 times increase of field emission current and better emission stability with...
We studied the electron emission of silicon coated CNT with various O2 partial pressure. The electron emission currrent shows differen reduction rate with growth condition and gas pressure. However, a degradation rate of electron emission current of silicon coated CNTs show deareases compared with conventional CNTs. Enhanced life time with reduced degradation rate with silicon coated CNTs appear to...
The high electron emission property of carbon nanotube (CNT) emitter grown is studied. CNT emitters were grown on silicon wafer by the resist-assisted patterning (RAP) process. The electron emission current of grown CNT emitter shows high current more than 30mA and repeatable properties in 100 times measurement. Through structural and electrical analysis, we discuss about the property of grown emitters.
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.