Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Ion scattering spectrometry (ISS) with time of flight (TOF) analysis is employed to measure the ion fraction of positively charged hydrogen (H + ) projectiles scattered from a well characterized highly oriented pyrolitc graphite (HOPG) surface at a 45° scattering angle, various ingoing/outgoing angles and two different incoming energies (4 and 5keV). In the theoretical approach, the negative...
We studied the modifications introduced in the chemical structure of AlF 3 films by electron irradiation using Auger electron spectroscopy (AES) and factor analysis (FA). We examined the effects of the current density and energy of the electrons on the film composition. We found that the irradiation produces lower aluminum oxidation states (AlF x with 0<x<3, and Al 0 ...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.