Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Thermal shock test was performed on the SnAg3.8Cu0.7 (SAC387) solder bump interconnecting AlN and Cu substrate. Finite element modeling (FEM), cross-polarized light microscopy, scanning electronic microscopy (SEM) and EBSD were used to analyze the failure mechanism of them. It was realized that during thermal shock, the areas with higher stress would suffer from more serious IMC coarsening and then...
In this paper, a series of PCB strain-to-fatigue life characteristics were generated at a constant bending frequency of 100Hz for different material combinations: eutectic SnPb solder, SAC101 solder, and In/Ni-doped SAC101 solder, assembled on PCB with OSP and ENIG finish respectively. As expected, SAC101 solder exhibits similar performance as eutectic SnPb solder, and solder joints on OSP finish...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.