Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
This paper presents a measurement scheme which can be used to detect the line defects in two dimensional (2D) materials such as graphene. With micro four point probe measurement, the sheet resistances of the material can be mapped in two directions. Therefore, the line defects with insulation boundaries can be illustrated by calculating the resistance ratio RA/RB. We have demonstrated the simulations...
Recently a novel microscale Hall effect measurement technique has been developed to extract sheet resistance (Rs), Hall sheet carrier density (NHs) and Hall mobility (μH) from collinear micro 4-point probe measurements in the vicinity of an insulating boundary [1]. The technique measures in less than a minute directly the local transport properties, which enables in-line production monitoring on scribe...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.