Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
FEM/BEM analysis technique, which is capable of analyzing SAW devices with dielectric coating layers, is presented. The resulting technique is based on the conventional Green function rather than its inverse. FEM part of the analysis deals with the free space region, dielectric layers, electrodes, and part of the substrate. Two approaches to treat the semi-infinite free space above the device structure...
An extension of the periodic FEM/BEM analysis technique is proposed and its application to P-matrix computation for periodic grating structures is described. Conventional BEM is extended to include waves propagating in opposite directions. The FEM part is extended to include power flow through the periodic boundaries, where the fields are expressed as linear combinations of known propagating modes...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.